納米位移臺是一種用于準確控制位置和運動的設(shè)備，通常用于實驗室應(yīng)用、原子力顯微鏡、掃描探針顯微鏡以及其他需要高精度定位和掃描的場合。下面是一些常見的納米位移臺的掃描模式和軌跡控制方式：
步進掃描：這是基本的掃描模式之一，納米位移臺以微小的步進距離逐點掃描目標區(qū)域。每個步進點都會記錄所需的數(shù)據(jù)或執(zhí)行特定操作。步進掃描適用于需要非常高的空間分辨率的應(yīng)用，但可能需要更長的時間。
連續(xù)掃描：連續(xù)掃描是在納米位移臺上應(yīng)用恒定的速度來掃描樣品表面。這通常用于快速獲取大范圍的表面拓撲信息。連續(xù)掃描是比步進掃描快速，但犧牲了空間分辨率。
螺旋掃描：在螺旋掃描中，納米位移臺以螺旋形狀掃描目標區(qū)域。這種方式通常用于快速獲取全貌圖像，同時保持較高的分辨率。
自由形式掃描：有些納米位移臺可以執(zhí)行自由形式掃描，允許用戶根據(jù)需要繪制自定義軌跡。這在特殊形狀的樣品分析和操作中非常有用。
階躍掃描：在階躍掃描中，納米位移臺會在垂直或水平方向上執(zhí)行階躍運動，以獲取樣品表面的特定信息。
雙通道掃描：一些納米位移臺具有雙通道掃描功能，可以同時在水平和垂直方向上執(zhí)行掃描，以提升效率和速度。
掃描模式的選擇通常取決于具體應(yīng)用的要求。用戶可以根據(jù)實驗需求和樣品性質(zhì)來選擇適當?shù)膾呙枘Ｊ胶蛙壽E控制方式，以獲得所需的數(shù)據(jù)和結(jié)果。這些掃描模式和軌跡控制方式可以通過控制軟件或者設(shè)備的用戶界面進行設(shè)置和調(diào)整。
以上就是卓聚科技小編分享的納米位移臺的掃描模式和軌跡控制。更多位移臺產(chǎn)品及價格請咨詢