納米位移臺(tái)是一種高精度的微小移動(dòng)平臺(tái)，通常用于在微納米尺度下進(jìn)行準(zhǔn)確位置控制和掃描操作。不同的應(yīng)用需要不同的掃描模式，以滿足特定的研究或制造需求。以下是一些常見(jiàn)的納米位移臺(tái)掃描模式：
步進(jìn)掃描（Step-Scan）： 步進(jìn)掃描模式是基本的掃描模式之一。在這種模式下，納米位移臺(tái)以離散的步進(jìn)方式移動(dòng)，每個(gè)步進(jìn)位置停留一段時(shí)間以進(jìn)行測(cè)量或觀察。這種模式適用于需要高精度的位置控制和穩(wěn)定性的應(yīng)用。
連續(xù)掃描（Continuous Scan）： 在連續(xù)掃描模式下，納米位移臺(tái)以連續(xù)的方式移動(dòng)，而不是離散的步進(jìn)。這種模式適用于需要快速獲取數(shù)據(jù)或圖像的應(yīng)用，但通常犧牲了一些準(zhǔn)確度。
螺旋掃描（Spiral Scan）： 螺旋掃描模式將掃描軌跡設(shè)計(jì)成螺旋形狀，從而覆蓋樣品的整個(gè)區(qū)域。這種模式適用于快速獲取整個(gè)樣品的圖像或表面拓?fù)湫畔ⅰ?br /> 區(qū)域掃描（Area Scan）： 區(qū)域掃描模式允許納米位移臺(tái)在一個(gè)特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行多次掃描，以獲取更多的數(shù)據(jù)或增加圖像分辨率。這對(duì)于詳細(xì)的表面分析非常有用。
線性掃描（Linear Scan）： 線性掃描模式將納米位移臺(tái)沿著一條線性軌跡移動(dòng)，通常用于單維度的掃描和測(cè)量。
格點(diǎn)掃描（Grid Scan）： 格點(diǎn)掃描模式將樣品區(qū)域劃分成一個(gè)規(guī)則的網(wǎng)格，并依次掃描每個(gè)格點(diǎn)。這種模式適用于在不同位置進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量或數(shù)據(jù)采集。
輪廓掃描（Profile Scan）： 輪廓掃描模式用于測(cè)量或記錄樣品表面的輪廓或形狀，通常用于制造和質(zhì)量控制應(yīng)用。
軌跡掃描（Path Scan）： 軌跡掃描模式允許定義自定義的掃描路徑，以適應(yīng)特定的研究需求，例如掃描特定的樣品特征或結(jié)構(gòu)。
以上就是卓聚科技小編分享的納米位移臺(tái)的掃描模式。更多位移臺(tái)產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢