納米位移臺(tái)的噪聲不僅是“聲音上的噪音”，更重要的是 機(jī)械振動(dòng)和電噪聲，會(huì)直接或間接影響實(shí)驗(yàn)精度。主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：
1. 對(duì)定位精度的影響
噪聲往往伴隨微小振動(dòng)，會(huì)導(dǎo)致位移臺(tái)產(chǎn)生隨機(jī)的位移抖動(dòng)。
在要求納米級(jí)分辨率的實(shí)驗(yàn)中，即使幾個(gè)納米的抖動(dòng)也會(huì)造成明顯誤差。
2. 對(duì)成像和測(cè)量的影響
在掃描電鏡（SEM）、原子力顯微鏡（AFM）等實(shí)驗(yàn)中，臺(tái)子振動(dòng)會(huì)使圖像模糊或產(chǎn)生偽影。
光學(xué)實(shí)驗(yàn)（如干涉測(cè)量、顯微成像）中，噪聲會(huì)降低圖像清晰度和對(duì)比度。
3. 對(duì)重復(fù)性和穩(wěn)定性的影響
噪聲帶來的隨機(jī)位移，使同一位置的重復(fù)測(cè)量結(jié)果存在偏差，降低實(shí)驗(yàn)可重復(fù)性。
長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)時(shí)，噪聲積累會(huì)加大漂移和誤差。
4. 對(duì)控制系統(tǒng)的影響
電噪聲可能干擾閉環(huán)傳感器的信號(hào)，使控制器無法正確判斷位置。
在高靈敏度控制中，噪聲會(huì)放大滯回、非線性和漂移問題。